科利登為威盛安裝首套分析實驗室
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科利登可用于65nm技術的完備實驗室解決方案包括了電子發射顯微系統，具有時間精度的發射技術，激光掃描顯微系統以及電路編輯。它還擁有方便高效的軟件工具，能把所有的失效分析和設計調試的硬件單元集成起來。該解決方案通過提高整體的產品質量，能為半導體產品的良率提升和可靠性分析提供很高的投資回報率。它能增加首次流片的成功概率，加速產品上市時間，加快關鍵缺陷的失效分析，從而減少產品開發及掩模板時故障隔離的成本。同時，它也能在芯片設計和生產之間的灰色區域進行有效的特征分析。用戶可以擺脫只依賴CAD工具在有限的時間內進行失效分析的局面。
威盛電子MPE部門的副總裁Shelton Lu說.：“威盛準確把握新技術的市場動向，并將它融入到我們的芯片產品和各種核心邏輯芯片組里面，從而能持續保持它在業界領先地位。因為只需與同一個公司合作，所以我們能夠在整個設計和調試流程中很好地利用科利登的技術和專業優勢。科利登能提供一整套完備的先進實驗室解決方案，涵蓋了那些所必需的先進調試工具，同時又保護了fabless和foundry之間的那些臨界知識產權。科利登的解決方案非常適合威盛的商業模式。 ”
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科利登 | 2005-12-16
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