科利登安裝完備失效分析實驗室
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作者:
時間:2005-11-04
來源:
科利登可用于65nm技術的完備實驗室解決方案包括了電子發射顯微系統,具有時間精度的發射技術,激光掃描顯微系統以及電路編輯。它還擁有方便高效的軟件工具,能把所有的失效分析和設計調試的硬件單元集成起來。該解決方案通過提高整體的產品質量,能為半導體產品的良率提升和可靠性分析提供很高的投資回報率。它能增加首次流片的成功概率,加速產品上市時間,加快關鍵缺陷的失效分析,從而減少產品開發及掩模板時故障隔離的成本。同時,它也能在芯片設計和生產之間的灰色區域進行有效的特征分析。
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科利登 | 2005-12-16
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