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首頁 > 新聞中心 > 測試測量 > 設計應用

通過實時健康監測預防故障：一項proteanTecs創新

2025-10-30

關鍵可靠性、可用性和可維護性（RAS）在現代半導體中至關重要，特別是當器件縮小到 2nm 等納米級幾何形狀時。靜默數據損壞（SDC）對人工智能系統構成重大威脅，由于無法追蹤的硬件故障而導致不正確的輸出和錯誤的決策......

實時健康監測預防故障 proteanTecs

在LTspice仿真中使用GaN FET模型

2025-10-23

近年來，工業電源市場對氮化鎵(GaN) FET和碳化硅(SiC) FET等高帶隙器件的興趣日益濃厚。GaN器件憑借顯著降低的電荷特性，能夠在較高開關頻率下實現高功率密度，而MOSFET在相同條件下運行時會產生巨大的熱損耗......

ADI LTspice GaN

使用MP5000系列實現并行測試同步

2025-10-20

_____引言受人工智能的快速發展和電氣化轉型的推動，半導體芯片市場的增長要求制造商在不犧牲測試精度的情況下，提高測試和驗證的吞吐量。實現這一目標的一種方法是并行測試，即同時對多個器件進行測試。一旦測試流程被驗證，它就必......

測試同步 Tektronix 泰克

基于云的5G測試平臺讓工程師能夠測試硬件和軟件

2025-10-20

IEEE 5G/6G 創新測試臺模擬從無線電到核心的整個網絡，使工程師能夠在網絡中的任何位置插入和測試 5G 硬件和軟件。EE World 于 2025 年 6 月訪問了 IEEE，在下面的視頻中進行了會議和演示。假設您......

5G 測試平臺測試硬件

泰瑞達推出Titan HP：突破性系統級測試解決方案，賦能云基礎設施與AI芯片發展

2025-10-15

場設計的Titan HP系統級測試（SLT）平臺。隨著工藝節點不斷微縮、新型架構持續涌現，市場對先進技術的需求日益增長，該創新解決方案也應運而生。由于AI與云基礎設施部署所用的復雜芯片在功耗和散熱方面不斷突破極限，SLT......

泰瑞達芯片測試

定制化芯片賦能精準測量，7系示波器開啟高性能新紀元

2025-10-14

_____每一次出色的測量，都始于對測試設備的信賴。工程師所需的不只是速度與帶寬，更需要確信屏幕上呈現的內容，與待測設備內部的實際情況完全一致。這正是我們研發定制化專用集成電路（ASIC）的初衷。全新推出的 Tek079......

精準測量示波器泰克

SiC MOSFET界面陷阱檢測升級：Force-I QSCV方法詳解

2025-09-29

電容- 電壓（C-V）測量廣泛用于半導體材料和器件表征，可提取氧化物電荷、界面陷阱、摻雜分布、平帶電壓等關鍵參數。傳統基于SMU 施加電壓并測量電流的準靜態方法適用于硅MOS，但在SiC MOS器件上因電容更大易導致結果......

202509 泰克

泰瑞達榮獲2025年臺積電Open Innovation Platform（OIP）年度合作伙伴大獎

2025-09-29

全球領先的自動化測試設備和先進機器人供應商泰瑞達（NASDAQ: TER）今日宣布，憑借對臺積電3DFabric?測試的貢獻，泰瑞達榮獲2025年臺積電Open Innovation Platform?（OIP）年度合作......

泰瑞達臺積電

數字電壓表設計教程之模數轉換原理分析

2025-09-27

1? ?前言自然界中的物理量，例如壓力、溫度等都是模擬量，要對這些物理量進行控制和檢測，就需要一種能在模擬信號與數字信號之間起轉換作用的電路—— 模數轉換器和數模轉換器。能把模擬信號轉換成數字信號的電路稱為模數轉換器（簡......

202509 數字電壓表模數轉換

泰克兩款新品在PCIM Asia迎來首秀，雙脈沖與IMDA引熱議

2025-09-26

_____9月24日，PCIM Asia 2025在上海新國際博覽中心盛大開幕。泰克（Tektronix）攜手合作伙伴東方中科，重磅亮相N5館F08展位，聚焦模擬半導體與寬禁帶半導體應用場景，全面展示泰克全棧式半導體測試......

泰克 PCIM IMDA

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時間：: 2025年11月04日 10:00

時間：: 2025年11月25日 10:00

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