放大器的測試指標可以分為兩類：線性指標測試和非線性指標測試。線性指標的測試基于S 參數的測量，采用常規矢量網絡分析議來完成。對于非線性指標的測試，傳統測試方案采用頻譜儀加信號源方法，但這種方案有很多缺點如無法實現同步掃頻、掃功率測試，不能進行相位測量如幅度相位轉化(AM/PM)測量。R&S ZVB采用創新的硬件結構，其輸出功率很高、功率掃描范圍寬，因而無需另外單獨使用前置放大器，一次掃描即可確定放大器功率壓縮特性。ZVB采用了強大的自動電平控制設計以及高選擇性、高靈敏性的接收機，因而可在較寬的動態范圍下進行放大器的諧波測試而無需使用外部濾波器。

　　端口匹配特性測量

　　端口匹配特性主要測試端口的S11與S22參數。如端口1的S11參數等于反射信號b1與入射信號a1之比：

　　S11參數也可稱為輸入反射因子。S11為復數，工程上通常用回波損耗(RL)和駐波比(VSWR)來表達端口的匹配程度。S11與這兩個參數的關系如下：

　　以上兩個參數與S11的換算由ZVB自動完成，用戶只需要在[Format] 菜單中選擇[dB Mag]->回波損耗，[SWR]->駐波比，就可以顯示相應的測試曲線。ZVB提供軌跡統計功能[Trace Statistics]，可自動顯示軌跡的最大值、最小值和峰-峰值，并且可以通過設置 [Eval Range]，來調整統計頻率范圍。該功能對帶限器件(如濾波器)的帶內指標測試非常有用。

　　圖1 回波損耗測試和軌跡統計結果