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展訊選擇Verigy Port Scale RF解決方案測試無線器件

作者: 時間:2008-07-15 來源:電子產品世界

  半導體測試公司惠瑞捷半導體科技有限公司宣布,無線基帶芯片組供應商之一通信有限公司已經選擇解決方案,在中國蘇州對其生產的器件進行測試。在評測了多個競爭對手的解決方案后,最終選擇了Port Scale RF,因為它吞吐量高,擁有多站測試功能,提供了更低的測試成本(COT)、性能更高的結果及杰出的測試穩定性。自從采用了Port Scale RF后,已經使其大批量RF器件測試成本較以前的解決方案降低了大約50%。

本文引用地址://tjguifa.cn/article/85715.htm

  展訊為移動無線產品開發了一系列擁有強健的多媒體功能和電源管理功能的高集成度基帶處理器。Port Scale RF可以有效測試全系列RF器件,從低集成度芯片,如RF收發器,直到下一代無線標準使用的最新高集成度單芯片器件。這為展訊提供了巨大的靈活性,因為展訊可以實現自己的RF器件路線圖,其性能可以同時涵蓋下一代技術及變化的集成度。同時,展訊可以實現更快的測試時間和更高的并行化程度,明顯降低測試成本。

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