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rSRAM消除“軟錯誤”對電子系統的威脅

作者:eaw 時間:2005-04-28 來源:eaw
意法半導體()公布的一項新技術rSRAM,完全可以消除近年來不斷困擾電子設備制造商的 “軟錯誤”難題。由于該技術對標準SRAM存儲單元的改進方法是在單元結構內以垂直方式增裝附加電容器,因此,芯片面積以及制造成本都不會受到較大的影響。

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