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第六屆PXI技術和應用論壇成功舉辦

作者: 時間:2009-06-02 來源:電子產品世界

  2009年5月26日,第六屆技術和應用論壇( TAC)在北京歌華開元大酒店舉辦的。本次會議由美國國家儀器有限公司()主辦,《電子產品世界》雜志社承辦,泛華測控、聚星儀器、凌華科技、Aeroflex、Pickering、VPC、Mac-panel和海泰電子贊助支持,全天有將近600名來自各行各業對技術感興趣的工程師參加了盛會。


   圖1 600名來自各行各業對PXI技術感興趣的工程師參加了盛會

本文引用地址://tjguifa.cn/article/94871.htm

  在這已連續舉辦六年的技術盛會中,我們可以看到,PXI已逐漸成為業界公認的自動化測試與控制領域的首選平臺。今年的會議主題仍將是以軟件為核心的下一代自動化測試系統,同時以2009年自動化測試的五大發展趨勢為主線,貫穿于整個會議的技術演講與產品展示中。為此,公司攜手PXI聯盟的其他廠商,共同搭建了二十余個展臺,展示了PXI技術在不同應用領域的價值。

  
  圖2 人頭攢動的大會現場

   在今年的主題演講中,現任PXI系統聯盟(PXISA)技術委員會主席的Mark Wetzel先生代表PXISA致歡迎詞,在演講中,Wetzel先生為觀眾帶來PXI在全球的應用情況,并結合PXI技術誕生十余年來的發展歷程和技術優勢,展望PXI技術的發展前景,為到場觀眾描述了PXI技術的美好未來。

 


關鍵詞: PXI 測試測量 NI

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