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IBM開發出基于碳納米管電流的發熱和熱傳遞測量技術

作者: 時間:2009-03-10 來源:電子產品世界
        美國研究開發部門 Research當地時間2009年3月1日宣布,成功開發出通過電流測量碳納米管(CNT)發熱和的技術。對于將CNT作為電路元件使用時,該技術有助于收集基本數據和改善性能。詳細內容將刊登在英國科學雜志“《自然—納米技術》(Nature Nanotechnology)”上。

        利用該測量技術,CNT的電流轉換為熱量,能夠明確構成CNT的碳原子的振動和CNT下面的底板表面振動傳播的狀況。以此獲得的數據有助于了解CNT作為電路元件的熱特性,是實現CNT電子元件的重要信息。

本文引用地址://tjguifa.cn/article/92239.htm

        將表示半導體特性的一個CNT作為晶體管的活性通道(Active channel)使用,檢測出極其微弱的共振光散射和電子移動現象。研究小組將CNT的光學特性因電流影響而發生的微弱變化作為溫度計,觀測到了發熱和

        CNT是將碳原子結合為直徑數納米的管狀分子。直徑只有人發的十萬分之一左右。有望用于LSI布線和活性通道元件。

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