美國吉時利儀器公司日前宣布增強了其ACS（Automated Characterization Suite，自動特征分析套件）軟件，納入了面向半導體可靠性與壽命預測測試應用的WLR（wafer level reliability，圓片級可靠性）備選測試工具。

　　4.0版以ACS軟件已有的單點和多點并行測試功能為基礎，增加了對數據庫的支持，以及最新的RTM（Reliability Test Module，可靠性測試模塊）軟件工具和備選license以及ACS數據分析功能。此外，新增可靠性測試與數據分析工具使得基于ACS 測試系統進行壽命預測速度比傳統WLR測試方案快5倍。在設計新集成電路技術研發、工藝集成和工藝監測階段，通過加快WLR測試，ACS系統能夠大大縮短新產品上市時間。