欧美激情综合一区二区三区,青柠影院免费观看电视剧高清8,无码人妻精品一区二区蜜桃老年人,亚洲最大成人网站,亚洲中文字幕无码一区在线

新聞中心

EEPW首頁 > 測試測量 > 業界動態 > 科利登在IC China 2005展出高量產測試系統

科利登在IC China 2005展出高量產測試系統

——
作者: 時間:2005-08-23 來源:

    2005年8月22日,來自中國北京的消息:系統公司 (納斯達克代碼:CMOS) 日前宣布將參展2005年 8月24號至26號在北京舉行的IC China 2005。該展會是半導體設備供應商及電子行業的一個首要集會,它由中國半導體工業協會和中國貿促會電子信息行業分會(CCPIT-ECC)共同舉辦。

本文引用地址://tjguifa.cn/article/7752.htm

    為了滿足中國區域快速增長的低成本市場需求,將展出Sapphire家族的最新成員Sapphire D-10系統。Sapphire D-10是一款創新的高產能多功能的圓片和封裝測試系統,特別用于應對微處理器,無線基帶,顯示驅動控制器及低成本消費類混合信號器件的低成本測試的需求。支持200Mbps的圓片測試,同時還支持高并行度的產品測試,Sapphire D-10非常適合支持中國半導體工業的快速發展。

    的首席執行官Dave Ranhoff說:“隨著去年中國電子信息制造產業3203億美元的銷售總額,中國已經成為全球最大的電子信息產品制造地之一。積極地參與和支持IC China這樣的展會和行業集會,是科利登公司對快速增長的中國半導體市場及本地客戶的承諾和義務之一。”
 
    除了Sapphire D-10系統,科利登還將突出其非揮發性存儲器測試和汽車電子測試的解決方案,并會有三場技術論文報告――”閃存測試的復雜性”,”汽車電子測試的低成本解決方案”和”使用真正的模塊化高產能測試系統結構來降低測試成本”。IC China 2005將在北京海淀展覽館舉行,科利登展臺號:3號館B10。

評論


技術專區

關閉