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NI中國成功舉辦第二屆“設計、驗證及測試論壇”

作者： 時間：2005-05-13 來源：
美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）于4月在上海國際會議中心成功主辦第二屆“設計、驗證及測試論壇” （Design Validation Test Forum，即DVTF 2005），今年的主題為“測試緊跟設計的步伐”。本屆論壇總共吸引了逾500位工程師、技術人員和院校教師參與此次盛會，其中97.1%的來賓表示“此次活動對他們的工作有所幫助”，70%將會推薦他們的同事參加明年的“設計、驗證及測試論壇”。在此次論壇期間，NI提出了若干驅動虛擬儀器技術發展的主導商業技術，并著重強調了PCI Express 和FPGA這兩項。

2004年第一屆DVTF由NI和泰克電子（Tektronix）強強聯手，延承其成功之勢，除了泰克電子以外，今年NI還邀請了英特爾（Intel）、科梁科技（AEETEK）、Quanser、CyboSoft（博軟科技）、泛華測控和聚星儀器等行業內外相關領域的多家優秀企業共同參與。

此次論壇分為熱點技術專題與實時應用專題同時進行。NI主持了“利用新興的PAC技術解決工業控制面臨的挑戰”、“用LabVIEW開發實時系統應用”等5場專題研討會，Intel 以及其他公司也提供了“Embedded Market Solutions - PCI Express Technology”、“采用高速數字示波器進行 PCI Express分析和一致性測試”等講座。此外，每家參展廠商都有各自的展示區域，可以與參觀者面對面地交流。

前來參加會議的來賓們也表示本次論壇“務實求新，提供了新思想、新方路、新手段、新工藝”，“與各大廠商直接接觸，了解到測試及控制領域最新的技術及發展趨勢”。

基于兩屆活動的成功經驗，NI會在明年繼續舉辦第三屆“設計、驗證及測試論壇”，并有信心將其打造成測試測量行業內首屈一指的多供應商技術論壇。

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