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安捷倫光波分析儀可測試波長850nm的組件

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作者: 時間:2007-05-27 來源:eepw
科技(Agilent)日前所展示旗下最新的光波組件分析儀(LCA),可測試目標波長為850nm的組件。AgilentN4376BLCA為關鍵光組件優化的頻率響應特性描述確立了新基準。這款LCA提供了業界最佳的多元性、量測速度與可靠度,是專為測試高速電信與計算機網絡的10GbE和光纖信道組件而設計。  

此款LCA藉由降低測試成本及加快開發速度,克服了當今LAN/SAN的各種挑戰,包括向下延伸到高速芯片間連接(inter-chipconnections)和光背板的部分。 

新款AgilentN4376BLCA具備所保證的最低量測不確定性及依循國際標準的測試結果,能協助制造、支持與研發工程師提高生產良率和產能。以多模態條件來測試目標波長為850nm的多模態組件,能優化短距離組件的設計,這是因為不會在850nm目標波長以外的其它波長外推量測結果而導致額外的不確定性。  

這款LCA以依據標準之850nm光電轉換器來加強產品的陣容,該轉換器具備定義完善的多模態發射條件(multimodelaunchconditions)與高達20GHz的調變速率。此單一產品解決方案能分析所有類別的網絡組件(E/O、O/E和O/O),包括雷射驅動器、放大器、雷射、發射器、光調變器、光電二極管及被動光學組件。  

線性傳輸和反射特性量測系以安捷倫的網絡分析儀來執行,它提供完整的S參數分析及包含探針頭在內的校驗。現有的AgilentN4373ALCA或高效能網絡分析儀皆可透過經濟的方式升級,以充分保障您既有的投資。 

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