Agilent分析探針支持533MTps設計和調試
作者:eaw
時間:2005-05-07
來源:eaw
日前推出的FSI-60075內插件分析探針,是Agilent(安捷倫科技)專為下一代DDR2 SDRAM總線分析而設計的產品。該新品為低平外形內插件,對DDR2總線影響小,可使用任何Jedec標準的DDR2雙在線存儲模塊(DIMM)在533MTps下進行設計和調試。且其垂直設計還最小化了水平方向的外部區域,從而允許DIMM緊鄰探針安裝在槽內。www.agilent.com
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