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應用材料公司推出全新的Mariana刻蝕系統

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作者: 時間:2007-04-16 來源:EEPW

  近日,公司推出了新的Applied Centura® ™ Trench Etch系統,這是深槽刻蝕納米制造技術領域內的一次重大飛躍。是第一個能夠刻蝕80:1長寬比深槽的系統,這個關鍵性能使客戶可以擴展DRAM電容到70nm技術節點。雙頻調諧功能夠精密控制刻蝕輪廓和臨界尺寸,使刻蝕深度不一致性小于2%。同時,系統獨特的等離子化學反應提供了全所未有的硬掩膜選擇性。

  公司資深副總裁,刻蝕、清潔、前道和離子注入集團總經理Tom St. Dennis表示:“通過和客戶的合作,我們開發了業界最先進的深槽刻蝕技術,其刻蝕結構的長寬比高出現有系統30%。這個共同開發的項目使我們的 系統具有先進的技術性能和優化的生產能力。”

  Tom St. Dennis還補充道:“目前已經有客戶選購了Mariana系統用于70nm DRAM的生產。進一步提高電容深槽工藝的關鍵就在增加長寬比,客戶們都非常贊賞Mariana系統具有支持多代DRAM生產的能力。”

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