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單片智能溫度計及其在燙金機中的應用

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作者:張迅 古江漢 南華大學電氣工程學院 時間:2007-01-26 來源:《電子元器件應用》

引言

溫度是工業控制中主要的被控對象之一,如印刷、食品、化工等各類工業中廣泛使用的各種加熱設備、熱處理爐、反應爐等,它們都對工件的處理溫度有嚴格控制要求,計算機控制技術在這方面的應用,使得溫度控制技術指標得到了大幅度的提高,本文介紹了一種用at89c2051單片機制作用于燙金機中的電子溫度計,和普通的溫度控制儀相比,該溫度計具有測溫速度快、讀數方便等特點,測溫范圍為-40-125℃,而且穩定實用,輔以適當的隔熱材料,其控制范圍將更高。

燙金機是根據熱壓原理,將彩色電化鋁印在紙、木、塑、革等各種商品上,其燙印色彩鮮艷、美觀大方,是當前小型商品裝潢、名片和包裝印刷的必備機器,燙金機的燙金原理是通過一定的溫度和壓力,并利用色箔將飾版上的圖案和文字瞬間附著在塑膠表面上,燙金必備的是溫度、壓力、色箔、燙飾版、其中溫度控制是本設計要解決的主要問題。

ds18b20溫度傳感器

ds18b20是美國dallas半導體公司繼ds1820之后推出的一種改進型智能溫度傳感器,與傳統的熱敏電阻相比,它不需要運算放大器,就能直接讀出被測溫度,并可根據實際要求通過簡單的編程來實現9-12位的數字值讀數,通過設計可以分別在93.75ms和750ms內完成9位和12位的數字量,而且從ds18b20讀出的信息或寫入ds18b20的信息僅需要一根口線(單線接口)讀寫,ds18b20的溫度變換功率來源于數據總線,總線本身也可以向所掛接的ds18b20供電,而無需額外電源。因此,使用ds18b20可使系統結構更趨簡單,可靠性更高。由于ds18b20在測溫精度、轉換時間、傳輸距離、分辨率等方面較ds1820有了很大的改進,因而可給用戶帶來更方便的使用和更令人滿意的效果。

ds18b20的性能特點

ds18b20的主要性能特點如下:

具有獨特的單線接口方式,ds18b20與微處理器連接時僅需要一條口線即可實現微處理器與ds18b20的雙向通訊。

在使用中不需要任何外圍元件。

可用數據線供電,電壓范圍為3.0-5.5v,測量范圍為-55-+125℃,固有測溫分辨率為0.5℃。

通過編程可實現9-12位的數字讀數方式。

用戶可自己設定非易失性的報警上下門限值,并支持多點組網功能,多個ds18b20可以并聯在唯一的三線上實現多點測溫。

具有獨特的負壓特性,電源極性接反時,溫度計不會因發熱而燒毀,但不能正常工作。

ds18b的內部結構

ds18b20采用3腳pr-35封裝或8腳soic封裝,其內部結構框圖如圖1所示,其中64位閃速rom中的開始8位是產品類型的編碼,接著是每個器件唯一的序號,共有48位,最后8位是前56位的crc校驗碼,這也是多個ds18b20可以采用一線進行通信的原因,通過非易失性溫度報警觸發器th和tl可用軟件寫入用戶報警的上下門限。ds18b20溫度產傳感器的內部存儲器包括一個高速ram和一個非易失性的可電擦除的eepram,后者用于存儲th、tl值,數據線寫入ram,經校驗后再傳給eepram。片中的配置寄存器為高速存儲器中的第5個字節,其內容可用于確定溫度值的數字轉換分辨率,ds18b20工作時,按此寄存器中的分辨率可將溫度轉換為相應精度的數值。

ds18b20的測溫原理

ds18b20的測溫原理如圖2所示,圖中的低溫度系數晶振的振蕩頻率受溫度的影響很小,故可用于產生固定頻率的脈沖信號給減法計數器1,高溫度系數晶振隨溫度變化,其振蕩頻率會有明顯改變,其所產生的信號可作為減法計數器2的脈沖輸入,圖中隱含著的計數門可在打開時,使ds18b20對低溫度系數振蕩器產生的時鐘脈沖進行計數,進而完成溫度測量。計數門的開啟時間由高溫度系數振蕩器決定,每次測量前,首先將-55℃所對應的基數分別置入減法計數器1和溫度寄存器中,以使測量時減法計數器1和溫度寄存器被預置在-55℃所對應的一個基數值,減法計數器1可對低溫度系數晶振所產生的脈沖信號進行減法計數,當減法計數器1的預置值減到0時,溫度寄存器的值將加1,此后減法計數器1的預置將重新被裝入,此后減法計數器1重新開始對低溫度系數晶振產生的脈沖信號進行計數,如此循環直到減法計數器2計數到0時,系統將停止溫度寄存器值的累加,此時溫度寄存器中的數值即為所測溫度,圖3中的斜率累加器用于補償和修正測溫度過程中的非線性,其輸出用于修正減法計數器的預置值,只要計數門未關閉,系統就會重復上述過程,直到溫度寄存器達到被測溫度值。

本文引用地址://tjguifa.cn/article/21504.htm

測溫工作電路

該燙金機控溫系統的主電路如圖3所示,該電路由單片機電路、溫度傳感器電路、可控硅電路、數碼顯示電路等部分組成,其中at89c2051、x1、r1、c1等組成單片機電路,r1、c1是單片機的復位電路,在接通電源的瞬間,由于電源電壓通過r1對c1的充電過程,單片機at89c2051的復位端1腳將獲得一個高電平復位脈沖,該脈沖可使得單片機進入初始狀態。

單片機的p3.7為輸出控制口,通過一只電阻接至一片"光電耦合型過零觸發雙向"芯片gk的輸入端,設計時,可適時通過"gk"觸發外接的雙向晶閘管skg的導通與截止,來控制電爐絲的加電與斷電、大電流與小電流,從而實現對燙金機的升溫和恒溫的控制。

at89c2051內部有一個模擬信號比較器,at89c2051的p1.0和p1.1除了作i/o口外,還分別是模擬信號比較器的同相輸入端和反相輸入端,模擬信號比較器的比較結果存入p3.6對應的寄存器,p3.6在at89c2051外部無引腳,利用這個模擬信號比較器和鋸齒波信號發生器電路可以組成一個a/d轉換電路,以把p1.1輸入的模擬信號轉換成數字信號,數碼管ds1、ds2、ds3、ds4、三極管vt1、vt2、vt3、vt4、電阻r3-r13等可組成動態掃描數碼顯示電路,可把溫度值用數字顯示出來,本設計采用ds18b20作為溫度傳感器。

現以mcs-51單片機為例,圖3中采用的是寄生電源供電方式,p1.1口接單總線是為了保證在有效的ds18b20時鐘周期內提供足夠的電流,設計時可用一個mosfet管和at89c2051的p1.o來完成對總線的上拉。當ds18b20處于寫存儲器操作和溫度a/d變換操作時,總線上必須有強的上拉,上拉開啟時間最大為10μs。采用寄生電源供電方式時,vdd和gnd端均接地,由于單線制只有一根線,因此發送接收口必須是三態的,主機控制ds18b20完成溫度轉換必須經過初始化、rom操作指令、存儲器操作指令等三個步驟,假設單片機所用的晶振頻率為12mhz,那么,就可以根據ds18b20的初始化時序、寫時序和讀時序、來分別編寫init初始化子程序、write寫(命令或數據)子程序和read讀數據子程序等3個子程序,這些程序可在網上讀取,所有的數據讀寫均由最低位開始。

軟件設計

設計程序時,可使用匯編語言編寫,程序由主程序、定時中斷服務程序、延時子程序等模塊組成,其中主程序由初始化、數碼動態掃描顯示等部分組成,圖4所示是其定時中斷服務程序流程圖。

采用動態掃描顯示方式,雖然簡化了電路,節省了i/o線,但占用cpu的時間較多,而采用調用定時中斷的方式來測溫可以減小cpu的負擔,定時器0的定時時間為50ms,每過250ms(5次中斷)測一次溫度,延時子程序主要供數碼顯示程序調用,延時時間為0.5ms,延時時間決定了數碼顯示的刷新周期,因為顯示數碼為三位,所以刷新周期為1.5ms,字形碼的輸出采用p3口的p3.1-p3.5、p3.7、p3口輸出的數據可通過查表獲得。因為數碼管為共陽型,所以相應的輸出位為0時筆段亮。存儲器20h、21h、22h單元可分別作為個位數、十位數、百位數的存儲單元,其數值可作為查表的指針。動態掃描顯示由數碼顯示儲蓄完成,當個位數送到p3口時,p1.3輸出低電平,vt4導通,數碼管ds3顯示個位數,當十位數送到p3口時,p1.4輸出低電平,vt3導通,數碼管ds2顯示十位數,而當百位數送到p3口時,p1.5輸出低電平,vt2導通,數碼管ds1顯示百位數,如果溫度為負值,則百位數顯示負號,這樣輪流工作即可顯示溫度值,測溫結束時,p3.6由0翻轉為1,由于程序判斷p3.6為高電平要用兩個機器周期,且關閉定時器1停止計數也要用1個機器周期,總共這3個機器周期會使定時器1得計數值增加3,因此,在程序中對此誤差要進行修正,即將計數值減去3。

結束語

ds18b20雖然具有測溫系統簡單,測溫精度高、連接方便、占用口線少、擴展方便等優點,但在實際應用中還應注意以下幾方面的問題:

(1)較小的硬件開銷需要相對復雜的軟件進行補償,由于ds18b20與微處理器采用的是串行數據傳送,因此,在對ds18b20進行讀寫編程時,必須嚴格地保證讀寫時序,否則將無法讀取測溫結果,對ds18b20的操作部分最好采用匯編語言編寫。

(2)ds18b20工作時的電流高達1.5ma,故在總線上掛接點數較多且同時進行轉換時要考慮增加總線驅動,可用單片機端口在溫度轉換時導通一個mosfet。

(3)由于連接ds18b20的總線電纜是有長度限制的,因此,在用ds18b20進行長距離測溫系統設計時,要充分考慮總線分布電容和阻抗匹配等問題。

(4)在ds18b20測溫程序設計中,向ds18b20發出溫度轉換命令后,程序總要等待ds18b20的返回信號,一旦某個ds18b20接觸不好或斷線,那么,在程序讀該ds18b20時,將沒有返回信號,程序進入死循環,這一點在進行ds18b20硬件連接和軟件設計時也要給予一定的重視。

(5)和ds1820一樣,ds18b20的讀寫時序必須仔細調整,在反復的調試中找出合適的延時時間。


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